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以往半導體廠商依據ICE標準（85%rh相對濕度85℃熱環(huán)境）對半導體元件進行長時間（＞1000hrs）靜態(tài)老化，使其失效周期加速顯現。JESD22-A110高
隨著電子技術的飛速發(fā)展。半導體元器件作為組成各種電子電路的核心元件，不斷應用于各種嚴酷惡劣的環(huán)境。為了模擬更嚴酷的條件來縮短測試周期和即時的電氣特性跟蹤監(jiān)控的方
JESD22高加速應力試驗箱用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應力壽
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