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JESD22偏壓雙85濕熱試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、芯片、光電產(chǎn)品的高溫高濕試驗(yàn)，在半導(dǎo)體行業(yè)則需要做偏壓濕熱試驗(yàn)，偏壓濕熱試驗(yàn)屬于老化試驗(yàn)的一種，老化測(cè)試（Burn
根據(jù)國(guó)際半導(dǎo)體標(biāo)準(zhǔn)化組織（JEDEC）的要求，半導(dǎo)體設(shè)計(jì)和制造企業(yè)可以自行評(píng)估旗下產(chǎn)品的可靠性，偏壓高溫高濕試驗(yàn)則是其中一項(xiàng)重要試驗(yàn)項(xiàng)目，偏壓高溫高濕試模擬了“
半導(dǎo)體行業(yè)偏壓濕熱試驗(yàn)箱的設(shè)計(jì)，符合實(shí)驗(yàn)條件模擬了“85/85”穩(wěn)態(tài)濕度壽命試驗(yàn)(JESD22-A101)的失效機(jī)理，即在讓元件長(zhǎng)時(shí)間承受電氣性stress高溫
