歡迎光臨東莞環(huán)儀儀器有限公司官網(wǎng)!專(zhuān)業(yè)(可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱)、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱及VOC環(huán)境艙廠家。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱源頭制造商環(huán)儀儀器高新技術(shù)企業(yè) 歐盟標(biāo)準(zhǔn) 雙效合一
全國(guó)咨詢(xún)熱線:15322932685

可編程高低溫 SSD BIT老化實(shí)驗(yàn)箱測(cè)試要求

時(shí)間:2023-11-15 14:07:56 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:

固態(tài)硬盤(pán)(SSD)在生產(chǎn)過(guò)程中,需要在高低溫環(huán)境下進(jìn)行BIT老化測(cè)試,下面,我們根據(jù)實(shí)際要求,看看測(cè)試是怎么做的。


測(cè)試硬件:環(huán)儀儀器 可編程高低溫 SSD BIT老化實(shí)驗(yàn)箱

測(cè)試軟件:BurnInTest、H2test

測(cè)試環(huán)境:高溫75℃/低溫-10℃

測(cè)試樣品:固態(tài)硬盤(pán)

可編程高低溫 SSD BIT老化實(shí)驗(yàn)箱測(cè)試要求(圖1)


測(cè)試流程設(shè)計(jì):

測(cè)試流程分為兩個(gè)階段,高溫測(cè)試和低溫測(cè)試。具體步驟如下:

高溫測(cè)試(75℃): 運(yùn)行BurnInTest軟件進(jìn)行高溫測(cè)試,持續(xù)12小時(shí)。

切換至低溫測(cè)試(-10℃): 在測(cè)試箱溫度切換至-10℃,運(yùn)行BurnInTest軟件進(jìn)行低溫測(cè)試,同樣持續(xù)12小時(shí)。

測(cè)試周期:一個(gè)完整的測(cè)試周期包括高溫和低溫測(cè)試各一次,總時(shí)長(zhǎng)為72小時(shí),共循環(huán)三個(gè)周期。


測(cè)試后校驗(yàn):

測(cè)試結(jié)束后,使用H2test軟件進(jìn)行校驗(yàn),檢查固態(tài)硬盤(pán)是否出現(xiàn)壞塊。這一步驟在常溫環(huán)境下進(jìn)行,確保在不同溫度條件下測(cè)試后的硬盤(pán)狀態(tài)。


標(biāo)簽: SSD BIT老化柜

相關(guān)文章/ Related Articles