eMMC存儲芯片高低溫老化箱可對eMMC（EmbeddedMulti Media Card，嵌入式多媒體卡）、SSD（Solid State Disk，固態(tài)硬盤）、UFS（UniveralFlash Storage，通用閃存存儲器）等存儲芯片的兼容性能進行檢測。在不同存儲芯片適配終端產(chǎn)品的PCB（Printed Circuit Board，印制電路板）時，可在不同的環(huán)境條件下，快速高效的篩選出兼容性能良好的存儲芯片。
下面，我們結(jié)合實際情況，看看如何對eMMC存儲做高低溫老化測試。
eMMC存儲高低溫老化測試方法：
試驗設(shè)備：環(huán)儀儀器 eMMC存儲芯片高低溫老化箱
測試內(nèi)容：高低溫循環(huán)存儲、高低溫循環(huán)工作
工作模式示意圖：
試驗步驟：
高低溫循環(huán)存儲試驗
1、6 套球泡燈在溫箱內(nèi)僅存儲并不上電工作，開啟并設(shè)置eMMC存儲芯片高低溫老化箱工作于指定溫度（-40/-20/0/25/60/85/105/125）℃循環(huán)模式；
2、6 套球泡燈在溫度循環(huán)環(huán)境下持續(xù)存放 72 小時后取出，并在常溫下通過 BLE 配網(wǎng)加入無線路由器 AP，進而連接云，并在智能控?zé)?APP 上添加設(shè)備成功；
3、1 小時內(nèi)隨意查詢 6 套球泡燈連云狀態(tài)，并調(diào)整顏色，開關(guān)燈等操作。
高低溫循環(huán)工作試驗
1、6 套球泡燈在溫箱內(nèi)上電工作，開啟并設(shè)置eMMC存儲芯片高低溫老化箱工作于指定溫度（-40/-20/0/25/60/85/105）℃循環(huán)模式；
2、6 套球泡燈在溫度循環(huán)環(huán)境下持續(xù)工作 168 小時，期間反復(fù)嘗試 BLE配網(wǎng)加入無線路由器 AP，進而連接云，并在智能控?zé)?APP 上添加設(shè)備成功；
3、168 小時內(nèi)隨意查詢 6 套球泡燈連云狀態(tài)，并調(diào)整顏色，開關(guān)燈等操作。
如對以上試驗有疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
