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為了研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機理和溫變規(guī)律，評估其空間應用的可行性，為Flash器件在空間型號任務的應用提供試驗依據(jù)和改進建議。在溫變規(guī)律研
Flash高低溫試驗箱可用于研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機理和溫變規(guī)律，評估其空間應用的可行性，為Flash器件在空間型號任務的應用提供試驗依據(jù)
EMMC高低溫循環(huán)試驗箱可針對NAND Flash、UFS芯片進行高速、高低溫度范圍的全功能動態(tài)老化測試。針對集成NAND和Controller的模組芯片（例如
eMMC存儲芯片高低溫老化箱可對eMMC（EmbeddedMulti Media Card，嵌入式多媒體卡）、SSD（Solid State Disk，固態(tài)硬盤
eMMC高低溫試驗箱是一款專門針對eMMC、UFS、eMCP等顆粒存儲芯片進行高低溫老化的設備。設備采用可程式系統(tǒng)控制，能夠同時支持大批量芯片同步老化測試，腔體
整車濕熱環(huán)境試驗室用于模擬自然環(huán)境中的高低溫、濕度變化，對汽車及其零部件進行耐候性測試。試驗室通過控制溫度、濕度和氣壓等環(huán)境參數(shù)，考察整車在不同環(huán)境條件下的適應
汽車濕熱循環(huán)實驗是模擬汽車工作過程中，因高濕度環(huán)境導致的溫度交變循環(huán)，其實驗機理是濕熱的腐蝕作用，濕熱環(huán)境還會對材料的機械性能和化學性能產生影響，如體積膨脹、機
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