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高加速高壓蒸煮濕熱試驗(yàn)箱用于評估非密封封裝固態(tài)設(shè)備在正常（環(huán)境）運(yùn)行期間可能遇到潮濕環(huán)境的可靠性。HAST 也稱為壓力鍋測試 (PCT) 或不飽和壓力鍋測試，其
高壓蒸煮試驗(yàn)箱用于多層線路板、光伏組件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等產(chǎn)品之密封性能的檢測，測試其制品的耐壓性，氣密性。待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛
眾所周知，光電產(chǎn)品高壓蒸汽濕熱試驗(yàn)機(jī)是用于光電產(chǎn)品的高加速濕熱試驗(yàn)，加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試
光電器件在使用光電器件高加速濕熱試驗(yàn)箱做測試過程中，由于高溫高濕的原因，會受到不同的失效情況，為了加速光電器件的吸濕速率以及縮短試驗(yàn)時間，可使用加速試驗(yàn)設(shè)備(光
光電產(chǎn)品可靠性測試領(lǐng)域，高加速溫濕度應(yīng)力測試，俗稱HAST測試， 高加速溫度和濕度應(yīng)力測試需要使用光電產(chǎn)品高加速溫濕度試驗(yàn)箱，用于評估電光電產(chǎn)品的可靠性和耐用性
很多光電器件必須長時間工作在高低溫等各種惡劣環(huán)境下，高低溫失效問題變得越來越嚴(yán)重。針對電器件的高低溫失效問題，研究低溫環(huán)境下器件的電特性規(guī)律和各種參數(shù)隨溫度變化
針對光電產(chǎn)品開展高低溫循環(huán)試驗(yàn)。試驗(yàn)過程中每間隔一定的循環(huán)次數(shù)，對器件進(jìn)行光電性能、杜瓦漏熱、制冷器特性等性能參數(shù)的測試和分析。高低溫循環(huán)試驗(yàn)需確定以下試驗(yàn)參數(shù)
光電子器件包括光探測器、激光器等，應(yīng)用在非常廣泛的領(lǐng)域。由于不同器件應(yīng)用的環(huán)境溫度范圍不同，因而對電器件在不同溫度下的各種光電參數(shù)有不同的要求。所以在器件的制備
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