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固態(tài)硬盤的讀寫掉電測試一般都是在同一溫度(低溫或者高溫)下進行的,主要檢測產品貯存和使用的適用性。NVMe固態(tài)硬盤內部擔任儲存數(shù)據(jù)的重要組件是NAND閃存,影響
為了測試SSD固態(tài)硬盤的“軟件讀寫性能測試”,在測試過程中,需要使用高低溫循環(huán)試驗箱和常溫存放H2test校驗測試,為了讓大家了解固態(tài)硬盤的高低溫讀寫性能,接下
SSD高低溫測試箱是一款針對SSD成品測試的高集成度測試平臺,可以在不同溫度環(huán)境下,直接測試SSD的壽命和其他多項性能參數(shù),為NVMe固態(tài)硬盤的可靠性,數(shù)據(jù)安全
為了研究FLASH芯片的壞區(qū)增長與擦寫次數(shù)為怎樣的關系,目前尚未有實際實物參照數(shù)據(jù)。下面使用Flash器件高低溫擦寫性能試驗箱,通過FLASH芯片壽命試驗,在地
為了研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機理和溫變規(guī)律,評估其空間應用的可行性,為Flash器件在空間型號任務的應用提供試驗依據(jù)和改進建議。在溫變規(guī)律研
Flash高低溫試驗箱可用于研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機理和溫變規(guī)律,評估其空間應用的可行性,為Flash器件在空間型號任務的應用提供試驗依據(jù)
EMMC高低溫循環(huán)試驗箱可針對NAND Flash、UFS芯片進行高速、高低溫度范圍的全功能動態(tài)老化測試。針對集成NAND和Controller的模組芯片(例如
eMMC存儲芯片高低溫老化箱可對eMMC(EmbeddedMulti Media Card,嵌入式多媒體卡)、SSD(Solid State Disk,固態(tài)硬盤