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整體式升溫測試室怎么選型

時(shí)間:2024-06-17 02:04:52 作者:環(huán)儀儀器 點(diǎn)擊:

整體式升溫測試室是針對高性能電子產(chǎn)品模擬高溫惡劣環(huán)境的試驗(yàn)設(shè)備,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備,測試室溫度范圍+40℃~+100℃,適合所有電子產(chǎn)品的老化測試。對于測試室的選型,大家可以參考下面為大家介紹的內(nèi)容。

整體式升溫測試室怎么選型(圖1)

整體式升溫測試室選型參數(shù):

整體式升溫測試室怎么選型(圖2)

整體式升溫測試室選型要求:

1.加熱試驗(yàn)

將溫度傳感器置于高溫老化試驗(yàn)箱工作空間內(nèi)任意一點(diǎn),全功率加熱,記錄工作室溫度首次由室溫升至最高工作溫度的時(shí)間,結(jié)果不應(yīng)超過120分鐘。

2.表面溫度測試

高溫老化試驗(yàn)箱工作溫度首次達(dá)到最高工作溫度并穩(wěn)定2小時(shí)后,用溫度計(jì)測試箱體表面溫度,對最高工作溫度不超過200℃的試驗(yàn)箱,表面溫度不應(yīng)大于室溫加35℃;最高工作溫度超過200℃,表面溫度應(yīng)按公式確定。

3.絕緣電阻測試

試驗(yàn)按GB998中6.2規(guī)定的方法進(jìn)行,其結(jié)果應(yīng)與電加熱器接線端子(含引出線)對控制系統(tǒng)開路時(shí)進(jìn)行1500V、交流50H、1min的絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)相一致,絕緣不應(yīng)被擊穿。

4. 介電強(qiáng)度測試

試驗(yàn)按GB998中6.3條的規(guī)定進(jìn)行,當(dāng)試驗(yàn)結(jié)果符合電加熱器接線端子(含引出線)與控制系統(tǒng)斷路要求時(shí),外殼應(yīng)能承受1500V、交流50H,歷時(shí)1min的介電強(qiáng)度試驗(yàn),絕緣不應(yīng)被擊穿。

5.噪音測試

按照ZBN61012規(guī)定的方法進(jìn)行測試,結(jié)果整機(jī)噪聲不高,為75dB(A)。

標(biāo)簽: 升溫房

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